ADVANCED TECHNIQUES FOR CHARACTERIZING MICROSTRUCTURES - Wiffen - Spitznagel

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Estado do lote: Normal (com sinais de uso normal)

Autor: Wiffen - Spitznagel
Edición: No consta edición
Lugar: New York
Editorial: The Metallurgical Society of AIME
Año: 1982
Encuadernación: Tela editorial

507 pp. 16 x 23,5 cm.
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